水峰描述的是哪一类损耗
ITU-T G 系列补充文件 39 的 2025 年版把水吸收峰定位在约 1383 nm，并讨论氢暴露与光纤敏感性的影响。这里的“水峰”属于材料光谱特性，采购文件应给出波长和衰减条件。2
Corning 的 WP9007 区分分子氢进入玻璃产生的吸收，以及氢与玻璃缺陷反应造成的吸收。部分变化可恢复，另一些反应会留下持久损耗。因此，“耐氢”应对应具体试验和评价范围，不能由一个营销名称推导为任何氢环境都不受影响。1
本页适用于宽波段通信、既有光纤扩波段和特殊环境项目的来料审核。对于只需要某一窄波段工作的组件，应先确认应用需求，再决定索取哪些材料证据，不用无关项目增加检验负担。
三类与水有关的要求分别审查
| 采购术语 | 评价对象 | 应索取的资料 | 不能直接替代 |
|---|---|---|---|
| 低水峰 | 玻璃光谱衰减特性 | 纤型、波长和保证范围 | 光缆纵向阻水 |
| 氢老化 | 规定暴露后的材料表现 | 方法、样品范围与老化后结果 | 任意含氢环境寿命 |
| 光缆阻水 | 光缆结构中的水传播 | 结构和适用阻水测试 | 玻璃氢敏感性 |
| 连接界面防水 | 配对或防护状态的接口 | 装配条件与防护试验 | 整条光缆的材料特性 |
这张表是采购分工建议。某个接口防水合格，不能据此生成光纤氢老化证明；反过来，材料满足低水峰条款，也没有覆盖盒体、接头与护套的进水防护。订单可以同时要求多份证据，但要分别标明被测对象。
型式测试要与实际物料建立对应关系
ITU-T G.652 的 2024 年版在 D 类表中单列 1383 nm 附近的氢老化后衰减，脚注说明它属于按 IEC 60793-2-50 对抽样光纤进行的型式测试。它与每根成品跳线的逐件插损检验承担不同任务。3
收到合格文件时，应检查制造商、完整纤型、方法版本和报告样品范围。再通过经批准的卷号、批次或物料记录，把这份证据与成品连接起来。只在资料封面写 G.652.D，却不能说明使用了哪种光纤，仍不利于验收和后续变更管理。
| 记录层级 | 建议检查字段 | 需要避免的混用 |
|---|---|---|
| 材料规格 | 原厂、纤型、适用版本、波长 | 把另一纤型的数据表套用 |
| 老化报告 | 方法、试样、暴露及恢复条件 | 初始低损耗代替老化后结果 |
| 合格判定 | 相应波长的接受条款 | 只保留无条件“通过” |
| 追溯文件 | 批次或批准的对应方式 | 典型产品说明当逐件实测 |
| 成品报告 | 接口、测试波长、参考和插损 | 将连接损耗当材料型式测试 |
这些字段用于组织采购资料，不要求所有项目都对每根跳线重新做氢暴露。是否需要批次抽验，应按项目风险和采购规范另行约定，不能把型式测试报告改写成所有交付件均经历了同一试验。
短组件与特殊环境怎样处理
G.652 文件还提示，表中的成缆衰减系数不能直接套到短跳线、室内缆或引入缆。短组件应按约定测试对象审查连接损耗，不能把 dB/km 数字简单乘以几米后，当作整件损耗限值。3
若项目有特定含氢气氛，应另列气体条件、温度、时间和评价波段，交给材料与系统责任方审核。低水峰通信光纤的标准材料条款，不构成井下或其他特殊气氛应用的通用寿命证明。这里不指定任何 ARRANEX 的耐氢参数或适用年限。
采购常见问题
- 低水峰意味着光缆防水吗？ 两者检查对象不同，应分别审核材料光谱和光缆防水结构。
- 只测 1310 nm 和 1550 nm 插损够证明低水峰吗？ 这不能替代涉及 1383 nm 及氢老化的材料证据。
- 氢老化报告必须逐根跳线都有吗？ 标准所述型式测试与成品检验不同，可约定材料追溯和必要抽验。
- 初始 1383 nm 衰减很低就足够吗？ 还要看适用条款是否要求老化后表现以及对应测试条件。
- 用于特殊含氢环境时应该补充什么？ 提供气氛、温度、持续时间、工作波段和接受条件，另行确认材料与完整组件的适用证据。
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上述产品页面用于查看既有连接与布线范围。具体接口、材料和验证要求应按实际项目确认。
联系工程师
准备接口图、材料规格或现有测试记录，联系工程师讨论组件配置与验证范围。
资料来源与核对日期
实际资料核对日期为 2026-10-27。第三方资料说明通用技术、特定型号或研究配置，不构成 ARRANEX 的性能、认证或供货声明。采购表格为编辑建议，测试与接受条件应按批准的项目文件执行。
资料核对日期：2026-10-27